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デュアルタイプ膜厚計LZ-200J

電磁式と渦電流式の両機能を備え、プリンタを内蔵。磁性金属上および非磁性金属上の様々な被膜厚測定に対応。

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測定方式	電磁誘導式/渦電流式兼用
測定対象	磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	電磁誘導式:0～1500μmまたは60.00mils 渦電流式:0～800μmまたは32.00mils
測定精度	電磁誘導式:15μm未満:±0.3μm / 15μm以上：±2％渦電流式:50μm未満:±1μm / 50μm以上:±2％
分解能	100μm未満:0.1μm / 100μm以上:1.0μm
適合規格	JIS 5600 準拠
統計機能	測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
プローブ	一点接触定圧式（LEP-J、LHP-J）
表示方法	デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm）
外部出力	RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
電源	AC100V（50/60Hz）または
電池	1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量	120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
付属品	標準板、鉄素地、アルミ素地、標準板ケース、
電池	1.5V（単3アルカリ）、 ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション	データ管理ソフト「McWAVE」「MultiProp」、RS-232C接続ケーブル（McWAVE、MultiPropはCEC社の商標です。）

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